Nouveau système de topographie de surface

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Nouveau système de topographie de surface

| Par Polytec France, Micro.View • Le 07/09/2020 |

Proposé par Polytec France, Micro.View+ est un système de métrologie optique nouvelle génération. Selon l’entreprise, les innovations « Focus Finder » (recherche de focus) et « Focus Tracker » (suivi du focus) améliorent considérablement la facilité d’utilisation dans toutes les conditions : contrôle qualité en laboratoire et ligne de production. De plus, la technologie de balayage continu « CST » permet d’utiliser toute la plage de déplacement comme plage de mesure étendue soit jusqu’à 100 mm.